作為半導(dǎo)體封裝質(zhì)量監(jiān)控的重要環(huán)節(jié)，金球推力測試對保障儲存芯片的可靠性和壽命至關(guān)重要。金球推力測試是一種用于測量焊接球與基板之間剪切強度的測試方法，能夠有效評估焊接點的質(zhì)量和可靠性。

在儲存芯片的封裝過程中，金線鍵合是將芯片與外部電路連接的主要技術(shù)，其質(zhì)量直接影響到整個芯片的性能和壽命?？茰?zhǔn)測控小編將詳細(xì)介紹金球推力測試的原理、標(biāo)準(zhǔn)及操作流程，幫助您全面理解這一關(guān)鍵的測試方法。

一、測試原理

金球推力測試是通過機械應(yīng)力模擬來評估半導(dǎo)體封裝中焊點連接可靠性的關(guān)鍵技術(shù)。該測試采用水平推力評估球焊點與基板間的結(jié)合質(zhì)量。

測試時，推刀以水平方向?qū)盖蚴┘恿?，直到焊球脫落或損壞，通過測量這一過程中所需的最大力值來評估焊球的粘結(jié)強度。

二、測試標(biāo)準(zhǔn)與規(guī)范

金球推力測試遵循嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可比性。

1、測試參數(shù)規(guī)范

根據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，金球推力測試的主要參數(shù)包括：

推刀高度：焊球高度的1/3-1/2處

接觸角度：90±5°

測試速度：50-200μm/s

環(huán)境條件：溫度23±5℃，相對濕度RH 45±15%

2、失效模式判定

金球推力測試的失效模式主要分為以下幾種類型：

TYPE 1：金球完整剝離（PASS）

TYPE 2：金球剝離帶少量金屬殘留（PASS）

TYPE 3：基板彈坑（FAIL）

TYPE 4：推刀接觸芯片表面（FAIL）

TYPE 5：部分金球剝離（FAIL）

TYPE 6：金屬層脫落（FAIL）

三、測試儀器

1、Alpha W260推拉力測試機

Alpha W260推拉力測試機是專為微電子封裝可靠性測試設(shè)計的高精度設(shè)備，特別適合半導(dǎo)體芯片鍵合強度的測試需求。

設(shè)備特點：

Alpha W260推拉力測試機具有以下突出特點：

高精度：全量程采用高精度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，確保測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性

多功能性：支持金線拉力、金球推力、錫球推力和晶片推力等多種測試模式

操作便捷：配備專用軟件，操作簡單，支持多種數(shù)據(jù)輸出格式

智能化：自動數(shù)據(jù)采集、SPC統(tǒng)計分析、一鍵報告生成

夾具系統(tǒng)：種規(guī)格的剪切工具（適用于不同尺寸焊球）

定制化夾具解決方案

四、測試流程詳解

1、試樣準(zhǔn)備

將儲存芯片樣品水平固定在測試平臺上，確保測試過程中不會移動。

2、設(shè)置參數(shù)

確定焊球高度并設(shè)置推刀位置，推刀高度應(yīng)為焊球高度的1/3-1/2處。

3、推刀水平接近焊球，以100μm/s速度施加推力，直到焊球脫落或損壞。

4、數(shù)據(jù)記錄

系統(tǒng)自動記錄峰值推力，這是評估焊球粘結(jié)強度的關(guān)鍵數(shù)據(jù)。

5、結(jié)果分析

在顯微鏡下檢查失效形貌，根據(jù)失效模式判定標(biāo)準(zhǔn)判斷測試結(jié)果是否合格。

五、應(yīng)用領(lǐng)域

金球推力測試廣泛應(yīng)用于多個領(lǐng)域的封裝可靠性評估：

LED封裝測試

IC半導(dǎo)體封裝測試

TO封裝測試

IGBT功率模塊封裝測試

光電子元器件封裝測試

汽車電子領(lǐng)域

航天航空領(lǐng)域

軍工產(chǎn)品測試

以上就是小編介紹的有關(guān)于儲存芯片金球推力測試的相關(guān)內(nèi)容了，希望可以給大家?guī)韼椭?。如果您還對推拉力測試機怎么使用視頻和圖解，使用步驟及注意事項、作業(yè)指導(dǎo)書，原理、怎么校準(zhǔn)和使用方法視頻，推拉力測試儀操作規(guī)范、使用方法和測試視頻，焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題感興趣，歡迎關(guān)注我們，也可以給我們私信和留言?！究茰?zhǔn)測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導(dǎo)體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。